基于XDS NIR技术的XDS MultiVial近红外光谱分析仪对样品瓶中固体的快速无损测量提供了新一代专用近红外分析方案。用户可以采用 XDS MultiVial近红外光谱分析仪取代常规试验，缩短产品的检验检疫放行时间。无论在实验室，还是现场离线分析都可以对样品瓶中的样品进 行成分分析或材料鉴别检测。该分析仪支持无人值守模式下的光谱采集，使操作人员能够腾出时间准备其它样品、分析数据等。

XDS MultiVial近红外光谱分析仪的通用样品盘可实现瓶装样品的连续测量。内置的光斑可调功能，可以根据样品瓶直径调节样品的照度。样 品中心定位卡环可用于单个样品分析，而选配的粗颗粒分析单元则将固态样品的分析范围从精细粉末扩大到粗颗粒、球状颗粒和片状颗粒等几 乎所有的固体。

•XDS NIR技术确保使用简单和定标的无缝转移

•在无人值守的情况下，可自动反射分析一系列多位样品瓶（样品瓶大小可由用户选择）

•内置光斑可调功能，优化样品的照度

•无需样品制备，无需试剂，无任何废弃物

•面向集中数据库管理的网络分析仪

•热插拔模块—几分钟内即可完成更换，不会影响性能